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Norme de référence : ASTM E1261
ANALYSES CHIMIQUES
Spectromètre par étincelage :
Une étincelle se fait entre l'échantillon et l'électrode de tungstène, ce qui chauffe à une température élevée les atomes qui le composent. Les atomes excités émettent ainsi de la lumière à une longueur d'onde caractéristique. Cette lumière est ensuite analysée ce qui permet de remonter à la composition chimique.
Spectromètre à fluorescence X:
Lorsque l'on bombarde de la matière avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous la forme, entre autres, de rayons X ; c'est la fluorescence X, ou émission secondaire de rayons X. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition de l'échantillon.
CARACTÉRISATION DES MATÉRIAUX
Metallographie (macro/micro) :
L’examen métallographique réalisé sur une surface découpée et polie pour l'observation au microscope optique permet de déterminer la nature de la structure, la taille de grain, la nature et la teneur des inclusions. La recherche de défauts après examen US est aussi une des possibilités d'examens
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